半导体集成接口电路读出放大器测试方法的基本原理 (SJ/T 10800-1996)
SJ/T 10800-1996 半导体集成接口电路读出放大器测试方法的基本原理
标准号
SJ/T 10800-1996
下载格式
PDF
发布日期
1996-11-20
实施日期
1997-01-01
标准类别
行业标准
相关信息
- SJ 20305-1993 半导体集成电路JW723型多端可调精密稳压器详细规范
- SJ 20304-1993 半导体集成电路JW7905、JW79M05等型三端固定负输出稳压器详细规范
- SJ 20303-1993 半导体集成电路 JFOP07(07A、27A、37A)、JF714型低失调运算放大器详细规范
- SJ 20302-1993 半导体集成电路 JW1930-12、JW1930-15、JW1932-5型三端低压差固定正输出稳压器详细规范
- SJ 20301-1993 半导体集成电路JF158、JF158A型双运算放大器详细规范
- SJ/T 10800-1996 半导体集成接口电路读出放大器测试方法的基本原理