光电耦合器件低频噪声参数测试方法 (SJ/T 11766-2020) 主管部门为工业和信息化部。
起草单位：工业和信息化部电子第五研究所、西安电子科技大学、重庆赛宝工业技术研究院等
起草人：余永涛、胡为、张伟 等
适用于光电耦合器件1 Hz～300 kHz 频率范围内噪声参数的测试
SJ/T 11766-2020 光电耦合器件低频噪声参数测试方法
标准号
SJ/T 11766-2020
下载格式
PDF
发布日期
2020-12-09
实施日期
2021-04-01
标准类别
行业标准