半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 (SJ/T 11706-2018) 主管部门为工业和信息化部，行业分类所属信息传输、软件和信息技术服务业。
起草单位：中国电子技术标准化研究院、上海复旦微电子集团股份有限公司、中国科学院电子技术研究所等
起草人：刘芳、尹航、胡海涛 等
SJ/T 11706-2018 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
标准号
SJ/T 11706-2018
下载格式
PDF
发布日期
2018-02-09
实施日期
2018-04-01
标准类别
行业标准