纳米技术 表面增强拉曼固相基片均匀性测量 拉曼成像分析法 (GB/T 44075-2024) 国家标准《纳米技术 表面增强拉曼固相基片均匀性测量 拉曼成像分析法》由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为中国科学院。
起草单位：苏州纳微科技有限公司、苏州市计量测试院、苏州大学、中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所、中国检验检疫科学研究院、江苏菲沃泰纳米科技股份有限公司。
起草人：郭清华 、朱建荣 、姚建林 、袁亚仙 、方丹 、姜江 、席广成 、卢荻 、王震 。
该标准描述了使用拉曼光谱成像分析法测量表面增强拉曼固相基片均匀性的方法，包括方法概要、仪器设备、试剂和材料、测试过程及测试报告等。 该标准适用于SERS固相基片均匀性测量。