集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分：辐射抗扰度测量 IC带状线法 (GB/T 42968.8-2023) 国家标准《集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分：辐射抗扰度测量 IC带状线法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
起草单位：中国电子技术标准化研究院、工业和信息化部电子第五研究所、深圳市北测标准技术服务有限公司、天津先进技术研究院、北京智芯微电子科技有限公司、浙江诺益科技有限公司、扬芯科技（深圳）有限公司、广州市诚臻电子科技有限公司、北京无线电计量测试研究所、厦门海诺达科学仪器有限公司、河南凯瑞车辆检测认证中心有限公司、中国家用电器研究院、中国合格评定国家认可中心、北京芯可鉴科技有限公司、东南大学、中国汽车工程研究院股份有限公司、广东省科学院电子电器研究所、青岛金汇源电子有限公司、联想（北京）有限公司、西安优来测科技有限公司、中国电力科学研究院有限公司、广州致远电子有限公司。
起草人：付君 、崔强 、方文啸 、刘小军 、吴建飞 、乔彦彬 、郑益民 、叶畅 、杨红波 、李楠 、刘星汛 、梁吉明 、白云 、张艳艳 、朱赛 、靳冬 、刘佳 、陈燕宁 、邵鄂 、周香 、黄雪梅 、郑泓 、李德鹏 、吕飞燕 、刘易勇 、贺伟 、陈勇志 、陈梅双 。
该标准描述了集成电路（IC）对150 kHz~3 GHz频率范围内的射频（RF）辐射电磁骚扰的抗扰度测量方法。