纳米技术 纳米光电显示 量子点光转换膜光学性能测试方法 (GB/T 42976-2023) 国家标准《纳米技术 纳米光电显示 量子点光转换膜光学性能测试方法》由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为中国科学院。
起草单位：纳晶科技股份有限公司、国家纳米科学中心、深圳TCL新技术有限公司、广东普加福光电科技有限公司、海信视像科技股份有限公司、北京北达聚邦科技有限公司、武汉珈源同创科技有限公司、南开大学、杭州英诺维科技有限公司、浙江大学、中国计量大学、广州特种承压设备检测研究院、北京理工大学、TCL华星光电技术有限公司、南方科技大学、致晶科技（北京）有限公司、南京理工大学。
起草人：康永印 、刘忍肖 、罗飞 、张佳琪 、葛广路 、季洪雷 、许怀书 、李阳 、刘卫东 、穆琳佳 、郭海清 、朱东亮 、庞代文 、赵飞 、李俊凯 、秦海燕 、刘祖刚 、尹宗杰 、钟海政 、黄卫东 、孙小卫 、柏泽龙 、曾海波 。
此标准描述了量子点光转换膜光学性能的测试方法。包括方法原理、仪器和设备、测试样品、测试程序、数据处理、测试报告等。
此标准适用于液晶显示器件用址子点光转换膜光学性能的测量，其他类型光转换膜光学性能的测量参照执行。