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GB/T 42975-2023 半导体集成电路 驱动器测试方法

标准号
GB/T 42975-2023
下载格式
PDF
发布日期
2023-09-07
实施日期
2024-01-01
标准类别
国家标准
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简介

半导体集成电路 驱动器测试方法 (GB/T 42975-2023) 国家标准《半导体集成电路 驱动器测试方法》由TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。

起草单位:中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第二十四研究所、安徽大华半导体科技有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所、广东省中绍宣标准化技术研究院有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、成都振芯科技股份有限公司。

起草人:刘芳 、周俊 、杨晓强 、纵雷 、刘凡 、霍玉柱 、林瑜攀 、陆坚 、梁希 、王会影 。

此标准规定了半导体集成电路驱动器(以下简称器件)的电特性测试方法的基本原理和测试程序。

此标准适用于74/54系列驱动器、总线驱动器、PIN开关驱动器、达林顿驱动器、时钟驱动器、 LVDS驱动器、MOSFET驱动器和差分驱动器等各种半导体工艺制造的驱动器的电性能测试。其他类 别驱动器的测试参考使用。

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