硅锭、硅块和硅片中非平衡载流子复合寿命的测试 非接触涡流感应法 (GB/T 42907-2023) 国家标准《硅锭、硅块和硅片中非平衡载流子复合寿命的测试 非接触涡流感应法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口上报，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
起草单位：TCL中环新能源科技股份有限公司、弘元新材料（包头）有限公司、隆基绿能科技股份有限公司、宜昌南玻硅材料有限公司、浙江海纳半导体股份有限公司、内蒙古中环晶体材料有限公司、四川永祥光伏科技有限公司。
起草人：张雪囡 、王林 、王建平 、李向宇 、杨阳 、邓浩 、刘文明 、赵子龙 、郭红强 、张石晶 、潘金平 、李寿琴 、赵军 。
此标准描述了用非接触式涡流感应法测试太阳能电池用单晶硅锭、硅块和硅片中非平衡载流子复合寿命的方法。
此标准适用于非平衡载流子复合寿命在0.1μs~10000μs、电阻率在0.1Ω·cm~10000Ω·cm的硅锭、硅块和硅片的测试。其中瞬态光电导衰减法适用于非平衡载流子复合寿命小于100μs时硅锭、硅块和硅片的测试，准稳态光电导法适用于非平衡载流子复合寿命大于200μs时硅锭、硅块和硅片的测试，非平衡载流子复合寿命在100μs~200μs时，两种测试方法均适用。