无损检测 工业射线计算机层析成像检测 第1部分：原理、设备和样品 (GB/T 41123.1-2021) 国家标准《无损检测 工业射线计算机层析成像检测 第1部分：原理、设备和样品》由TC56（全国无损检测标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
起草单位：清华大学、中国兵器科学研究院宁波分院、北京固鸿科技有限公司、上海材料研究所、重庆大学、重庆真测科技股份有限公司、湖北三江航天江北机械工程有限公司、航天智造(上海)科技有限责任公司、中信戴卡股份有限公司、上海奕瑞光电子科技股份有限公司。
起草人：肖永顺 、乔日东 、叶青 、蒋建生 、王珏 、丁杰 、蔡玉芳 、齐子诚 、运明华 、王晓勇 、徐国珍 、刘军 、杨龙 。
此标准规定了X射线计算机层析成像（CT）的一般原理、所用设备及关于样品、材料和几何形状的基本注意事项。
此标准适用于工业计算机层析成像（非医学应用）检测，定义了一组CT系统性能参数，以及这些性能参数与CT系统规格的关系。
此标准适用于计算机轴向层析成像，不适用于其他类型的层析成像，如平移层析成像和断层合成成像。