电子电气产品中某些物质的测定 第5部分： AAS、AFS、ICP-OES和ICP-MS法测定聚合物和电子件中镉、铅、铬以及金属中镉、铅的含量 (GB/T 39560.5-2021) 国家标准《电子电气产品中某些物质的测定 第5部分： AAS、AFS、ICP-OES和ICP-MS法测定聚合物和电子件中镉、铅、铬以及金属中镉、铅的含量》由TC297（全国电工电子产品与系统的环境标准化技术委员会）归口上报，TC297SC3（全国电工电子产品与系统的环境标准化技术委员会有害物质检测方法分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
起草单位：中国电子技术标准化研究院、深圳赛西信息技术有限公司、兰州三维大数据标准化研究院有限公司、上海华测品标检测技术有限公司、中国家用电器研究院、山东省产品质量检验研究院、无锡海关机电产品及车辆检测中心、岛津企业管理（中国）有限公司、赛默飞世尔科技（中国）有限公司、深圳市鑫宇环标准技术有限公司、中检集团南方测试股份有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、宁波检验检疫科学技术研究院、中国信息通信研究院、广州海关技术中心、广东美的制冷设备有限公司、深圳海关工业品检测技术中心、成都产品质量检验研究院有限责任公司、江苏省电子信息产品质量监督检验研究院。
起草人：程涛 、高坚 、张军华 、陈冬梅 、邢卫兵 、陈凯敏 、曹焱鑫 、周加彦 、赵佳胤 、刘丹 、叶润 、梁丹 、司菲斐 、姜涛 、陈建国 、卢春阳 、周明辉 、胡盛文 、余淑媛 、吴宇 、印美娟 。
GB/T 39560的本部分描述了AAS,AFS,ICP-OES和ICP-MS测定聚合物、金属和电子件中铅、镉和铬的方法。
本部分规定了电子电气产品中镉(Cd)、铅（Pb）和铬（Cr）含量的测定。它涵盖了三种类型的基体：聚合物／聚合物组件、金属及合金和电子件。
本部分中的样品是指处理和检测的对象。样品及其获得方式由实施检测的机构确定。为检测电子产品中限用物质的含量，如何从中获得其代表性样品的进一步指南见IEC 62321-2。样品的选择和／或测定可能影响对检测结果的解释。
本部分规定了电子电气产品中j(Cd)、铅（Pb）和铬（Cr）含量的测定方法，介绍了四种仪器的检测方法（AAS、AFS、ICP-OES、ICP-MS）以及几种样品化学前处理方法（样品溶液的制备），可以从中选择最合适的方法。
由于聚合物和电子件中的六价铬有时难以测定，本部分描述了除AFS以外的聚合物和电子件中铬的筛选方法。铬的分析能提供材料中是否存在六价铬的信息。然而，元素分析不能选择性地测定六价铬，它测定的是样品中的总铬含量。如果总铬含量超过六价铬的限量，则应进行六价铬的确证检测。
本部分所述的ICP-OES和AAS法在测定含量高于10mg/kgPb、Cd和Cr；或者ICP-MS法测定高于0.1mg/kg的Pb、Cd；或者AFS法测定高于10mg/kg的Pb，高于1.5mg/kg的Cd时，可获得最好的准确度和精密度。这些方法也可以测试更高含量的样品。
因为材料稳定性的关系，本部分不适用于含多氟聚合物的样品。如果在分析过程中使用硫酸，则存在Pb损失的风险，从而会得到错误的偏低的分析值。此外，因为可能干扰Cd的还原，硫酸和氢氟酸不适合于原子荧光光谱法测定Cd。
样品的溶解过程存在局限性和风险，例如可能发生目标物或其他元素的沉淀，在这种情况下，残留物应单独检查或用其他方法溶解，然后与测试样品溶液合并。