核仪器仪表 辐射探测器用高纯度锗晶体 基本特性的测量方法 (GB/T 40291-2021) 国家标准《核仪器仪表 辐射探测器用高纯度锗晶体 基本特性的测量方法》由TC30（全国核仪器仪表标准化技术委员会）归口上报，TC30SC1（全国核仪器仪表标准化技术委员会通用核仪器和辐射探测器分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
起草单位：核工业航测遥感中心、深圳市计量质量检测研究院。
起草人：张积运 、杜晓立 、唐晓川 、李名兆 、管少斌 、周宗杰 、张长兴 、梁永顺 、刘金尧 、刘姗姗 。
此标准描述了测量高纯锗晶体基本特征的术语和试验方法。包括电活性杂质净浓度（NA-ND）、深能级杂质中心浓度和晶体学特性。
此标准适用于射线和x射线辐射探测器用高纯锗晶体。此锗单晶的电活性杂质中心的净浓度小于1011cm-3，通常是1010cm-3量级。
此标准中所列测试方法并非法定方法。但在工业中得到了广泛的应用，并为探测器制造商提供了可验证的信息，满足了制造商的需求。
在GB/T 7167-2008和GB/T 11685-2003中给出了完整的组装锗探测器的试验方法。