电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻 (GB/T 22586-2018) 国家标准《电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻》由TC265（全国超导标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为中国科学院。
起草单位：电子科技大学、清华大学、南京大学、中国科学院物理研究所。
起草人：曾成 、罗正祥 、补世荣 、魏斌 、吉争鸣 、孙亮 。
此标准规定了在微波频率下利用双谐振器法测试超导体表面电阻的方法，测试目标是在谐振频率下RS随温度的变化。改进型镜像介质谐振器法，作为另外一种可选用的方法，在附录B中给出。
此标准适用于表面电阻的测试范围如下：
——频率：8GHz＜f＜30GHz
——测试分辨率：0.01m(f=10GHz)。
测试报告给出在测试频率下的表面电阻值，并且给出利用Rsf2的关系折合到10GHz的值。