工业硅化学分析方法 第10部分：汞含量的测定 原子荧光光谱法 (GB/T 14849.10-2016) 国家标准《工业硅化学分析方法 第10部分：汞含量的测定 原子荧光光谱法》由TC243（全国有色金属标准化技术委员会）归口上报，TC243SC1（全国有色金属标准化技术委员会轻金属分会）执行，主管部门为中国有色金属工业协会。
起草单位：昆明冶金研究院、北京有色金属研究总院、北京矿冶研究总院、云南永昌硅业股份有限公司、通标标准技术服务（天津）有限公司、云南祥云飞龙再生科技股份有限公司、云南出入境检验检疫局、广州有色金属研究院。
起草人：刘英波 、罗舜 、杨毅 、陈殿耿 、王立 、唐飞 、杨琛 、段坤艳 、滕亚君 、周杰 、杨海岸 、赵德平 、刘维理 、陈映纯 、蒯丽君 、程堆强 、麦丽碧 。
GB/T 14849的本部分规定了工业硅中汞含量的测定方法。 本部分适用于工业硅中汞含量的测定，测定范围：0.000 010 %-0.001 0 %。 u3000u3000