工业硅化学分析方法 第5部分：杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法 (GB/T 14849.5-2014) 国家标准《工业硅化学分析方法 第5部分：杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法》由TC243（全国有色金属标准化技术委员会）归口上报，TC243SC1（全国有色金属标准化技术委员会轻金属分会）执行，主管部门为中国有色金属工业协会。
起草单位：昆明冶金研究院、中国铝业股份有限公司山东分公司、云南永昌硅业股份有限公司、中国铝业股份有限公司郑州研究院、通标标准技术服务有限公司、包头铝业有限公司、蓝星硅材料有限公司、昆明冶研新材料股份有限公司、云南出入境检验检疫局。
起草人：刘英波 、赵德平 、杨海岸 、周杰 、杨毅等 。
GB/T 14849的本部分规定了工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定方法。本部分适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定，测定范围见表1。