光学和光子学 光学薄膜 第4部分：规定的试验方法 (GB/T 26332.4-2015) 国家标准《光学和光子学 光学薄膜 第4部分：规定的试验方法》由604-1（中国机械工业联合会）归口上报，TC103SC5（全国光学和光子学标准化技术委员会光学材料和元件分会）执行，主管部门为中国机械工业联合会。
起草单位：沈阳仪表科学研究院有限公司、同济大学、浙江大学、大连化学物理研究所、沈阳汇博光学公司、杭州科汀光学技术有限公司、国家仪器仪表元器件质量监督检验中心。
起草人：王瑞生 、费书国 、阴晓俊 、王占山 、程鑫彬 、赵帅锋等 。
GB/T26332规定了在光学元器件及基片表面镀制的光学薄膜的应用功能分类、技术指标的标准表述形式、常规特性及试验测量方法,但不拟用于规定镀制方法。 本部分规定了在GB/T 26332.3中提到的光学薄膜环境适应性试验方法,这些方法在GB/T12085—2010标准中没有描述。这些方法通常与 GB/T26332.3—2015附录 A 中的测试方法组成试验序列共同使用。 本部分不适用于眼科光学(眼镜)的光学薄膜。