热解吸气相色谱法测定硅片表面的有机污染物 (GB/T 24577-2009) 国家标准《热解吸气相色谱法测定硅片表面的有机污染物》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。
起草单位:信息产业部专用材料质量监督检验中心、中国电子科技集团公司第四十六研究所。
起草人:王奕 、褚连青 、李静 。
此标准规定了硅片表面的有机污染物的定性和定量方法,采用气质联用仪或磷选择检测器或者两者同时采用。
热解吸气相色谱法测定硅片表面的有机污染物 (GB/T 24577-2009) 国家标准《热解吸气相色谱法测定硅片表面的有机污染物》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。
起草单位:信息产业部专用材料质量监督检验中心、中国电子科技集团公司第四十六研究所。
起草人:王奕 、褚连青 、李静 。
此标准规定了硅片表面的有机污染物的定性和定量方法,采用气质联用仪或磷选择检测器或者两者同时采用。
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