纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法 (GB/T 23413-2009) 国家标准《纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
起草单位：钢铁研究总院、首钢技术研究院。
起草人：方建锋 、郑毅 、李琪等 。
此标准规定了利用X射线衍射线宽化法来测定纳米材料晶粒尺寸和微观应变的方法。此标准采用的计算方法是近似函数法。此标准适用于测定晶粒尺寸一般不大于100 nm，微观应变一般不大于0.1%的纳米材料。