识别卡 测试方法 第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备 (GB/T 17554.3-2006) 国家标准《识别卡 测试方法 第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备》由TC28（全国信息技术标准化技术委员会）归口上报，TC28SC17（全国信息技术标准化技术委员会卡及身份识别安全设备分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
起草单位：中国电子技术标准化研究所。
起草人：冯敬 、蔡怀忠 、耿力 、金倩 、刘华茂 。
本部分定义了带触点的集成电路卡及其相关接口设备特性的测试方法，该方法与GB/T 16649给出的定义相适应。每一测试方法交叉引用一个或多个基础标准，这些基础标准可以是GB/T 14916，也可以是一个或多个定义了应用在识别卡应用的信息存储技术的补充标准。本部分只定义了带触点的集成电路卡及其相关接口设备特性的测试方法；GB/T 17554.1定义了为一种或多种卡技术所共用的测试方法；其他部分则定义了各个专项技术的测试方法。本部分中描述的若干测试方法可单独进行。规定的卡不要求顺序地通过所有测试。本部分中规定的测试方法基于GB/T 16649中的定义。采用本部分中描述的测试方法确认合格的集成电路卡(ICC)和接口设备(IFD)，不排除在实际使用时出现失效。本部分不包含可靠性测试的内容。