GB/T 5252-2006 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法

锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法 (GB/T 5252-2006) 国家标准《锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法》由610（中国有色金属工业协会）归口上报及执行，主管部门为中国有色金属工业协会。已被标准 GB/T 5252-2020（全部代替）

起草单位：北京有色金属研究总院。

起草人：余怀之 、刘建平 。

此标准适用于位错密度0cm-2～100 0000cm-2的n型和p型锗单晶棒或片的位错密度或其他缺陷的测量．观察面为(111)(100)(113)面。