GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法

半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法 (GB/T 15651.3-2003) 国家标准《半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。

起草单位：华禹光谷股份有限公司半导体厂。

本部分适用于光电子器件的测试方法，用于光纤系统或子系统的除外。