GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法

半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法 (GB/T 11685-2003) 国家标准《半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法》由TC30（全国核仪器仪表标准化技术委员会）归口上报，TC30SC1（全国核仪器仪表标准化技术委员会通用核仪器和辐射探测器分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。

起草单位：核工业标准化研究所。

此标准规定了半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪主要特性的测量方法。此标准适用于半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪主要性能的测量。