GB/T 17473.6-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定

厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定 (GB/T 17473.6-1998) 国家标准《厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定》由TC243（全国有色金属标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为中国有色金属工业协会。已被标准 GB/T 17473.6-2008（全部代替）

起草单位：昆明贵金属研究所。