红外焦平面阵列特性参数测试技术规范 (GB/T 17444-1998) 国家标准《红外焦平面阵列特性参数测试技术规范》由339-1（工业和信息化部（电子））归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。已被标准 GB/T 17444-2013（全部代替）
起草单位：中国科学院上海技术物理研究所。
此标准所指的焦平面，是敏感红外辐照（以下简称辐照）的光敏元阵列并带有读出电路的器件。此标准对焦平面特性参数及相关量进行了定义。此标准给出了焦平面主要特性参数的测试方法及测试条件。此标准适用于线列和面阵焦平面。