半导体器件机械和气候试验方法 (GB/T 4937-1995) 国家标准《半导体器件机械和气候试验方法》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。已被标准 GB/T 4937.1-2006（部分代替）
起草单位：上海市电子仪表计量测试所。
此标准列出了适用于半导体器件(分立器件和集成电路)的试验方法。使用时可从中进行选择。对于非空腔器件，可以要求补充的试验方法。
注:非空腔器件是指器件结构中封装材料与管芯的所有暴睬表面紧密接触且没有任何空间的器件。
此标准已尽可能考虑了IEC 68《基本环境试验规程》。