GB/T 5201-1994 带电粒子半导体探测器测试方法

带电粒子半导体探测器测试方法 (GB/T 5201-1994) 国家标准《带电粒子半导体探测器测试方法》由TC30（全国核仪器仪表标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为国家标准化管理委员会。已被标准 GB/T 5201-2012（全部代替）

起草单位：北京核仪器厂。

此标准规定了带电粒子半导体探测器电特性和核辐射性能的测试方法以及某些特殊环境的试验方法。此标准适用于探测带电粒子的部分耗尽金硅面垒型、锂漂移金硅面垒型和表面钝化离子注入平面硅型等半导体探测器。