用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法 (GB/T 14863-1993) 国家标准《用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。已被标准 GB/T 14863-2013（全部代替）
起草单位：机械电子工业部46所和4所。
此标准规定了用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流了浓度的原理、仪器与材料、样品制备、测量步骤和数据处理。此标准适用于外延层厚度不小于某一最小厚度值（见附录B）的相同或相反导电类型衬底上的n型或p型外延层，也适用于体材料。