硅多晶断面夹层化学腐蚀检验方法 (GB/T 4061-1983) 国家标准《硅多晶断面夹层化学腐蚀检验方法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。已被标准 GB/T 4061-2009(全部代替)
起草单位:峨嵋半导体材料厂。
硅多晶断面夹层化学腐蚀检验方法 (GB/T 4061-1983) 国家标准《硅多晶断面夹层化学腐蚀检验方法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。已被标准 GB/T 4061-2009(全部代替)
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