打印显示 薄膜均匀性测试方法 (GB/T 44390-2024) 国家标准《打印显示 薄膜均匀性测试方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为国家标准委。
起草单位：京东方科技集团股份有限公司、奥来德（上海）光电材料科技有限公司、北京鼎材科技有限公司、中国电子技术标准化研究院、合肥京东方卓印科技有限公司、合肥鼎材科技有限公司、TCL华星光电技术有限公司、江阴润玛电子材料股份有限公司、广东东溢新材料科技有限公司、广东聚华印刷显示技术有限公司、深圳御光新材料有限公司、衢州英特高分子材料有限公司、绍兴旭源新材料科技有限公司。
起草人：张志刚 、杨京龙 、李新国 、徐晓光 、马晓宇 、代青 、毕岩 、孙力 、施槐庭 、黄瑜 、曹可慰 、吴怡然 、赵俊莎 、汪康 、王铁 、包金豹 、乔娟 、高文正 、戈烨铭 、何珂 、周辉 、陈建平 、付东 、余磊 、黄卫东 、朱龙山 、袁鹏 、王霞 。
该标准描述了打印显示薄膜均匀性的测试方法，主要包括子像素均匀性、相邻子像素均匀性、短程均匀性测试方法。该标准适用于使用探针式表面轮廓仪（以下称台阶仪)和白光干涉仪对厚度范围为5 nm~105 nm的打印显示薄膜均匀性的测试。