硅中氯离子含量的测定 离子色谱法 (GB/T 37385-2019) 国家标准《硅中氯离子含量的测定 离子色谱法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口上报，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
起草单位：江苏中能硅业科技发展有限公司、新特能源股份有限公司、亚洲硅业（青海）有限公司、新疆协鑫新能源材料科技有限公司、苏州汉谱埃文材料科技有限公司、有色金属技术经济研究院。
起草人：王桃霞 、刘逸枫 、刘晓霞 、刘源君 、耿全荣 、梁博松 、鲁文锋 、胡议允 、贾芬 、张佳伟 、陈飞 、刘国霞 、邱艳梅 、宗冰 、李素青 。
此标准规定了硅中氯离子含量的离子色谱测定方法。
此标准适用于测定棒状、块状、颗粒状和片状硅中x离子含量的测定。测定范围为1.0g/g至硅中氯离子的最大固溶度。