GB/T 14031-1992 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理

半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理 (GB/T 14031-1992) 国家标准《半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。

起草单位：上海元件五厂。

此标准规定了半导体集成电路模拟锁相环（以下简称器件或模拟锁相环）电参数测试方法的基本原理。